可測量許多典型的厚度應用，包括鎳上的金，環氧樹脂上的銅，光致抗蝕劑，銅上的銀，可伐合金上的錫，鋼上的硝酸鈦，錫鉛合金。Microderm Beta反向散射厚度標準品（4個點集）包括裸露的基礎材料樣品，無限厚的涂層材料樣品和兩個可追溯到NIST（美國國家標準技術研究院）的認證厚度標準。可以使用霍爾效應測量銅上的鎳厚度，每個測量系統均配有臺式測量儀，測量探針和導向器以及厚度標準，專為良好的易用性和效率而設計Micro-Derm的MP-900僅在MP-900結合了beta反向散射和霍爾效應測量技術，從而消除了對兩個單獨儀器的昂貴需求。緊湊設計的測量功能X射線熒光機的經濟替代品可提高通量45個非易失性校準存儲器可讓用戶立即切換應用。

• 獨特的NOVRAM設計可通過-保持有價值的校準
• 備用電池
• 標準校準模式：4點，3點，2點，線性，多點和錫鉛
• 自動特殊的多點錫鉛校準模式
• 對不同的錫鉛成分進行補償和校正
• 新的三點BBS模式消除了對“無限”涂層的需求
• 標準霍爾效應測量的多點校準模式

產地：美國

電壓輸入：110/120/220/240±10%

頻率：50/60Hz

保險絲額定值：100/120V 1/2 ASB

220/240V 1/4 ASB

功耗：45 W

探頭燈輸出：是

RS-232C輸出：是

重量：14磅(6.4公斤)

尺寸：17”x12”x4”（43.2 x 30.5 x 10.2厘米）

校準存儲器：45

探頭輸入：4-BBS

1-霍爾效應

顯示器：4位LED

數字：0.43英寸（1.1cm）高

讀數：微英寸、微米、密耳、Angstroms、成分百分比、計數率

打印機：內置高速無印靜電打印機

微處理器電路：是

鋅/鋼

鎘/鋼

銀/不銹鋼

銅/鋼

鎳/鋼

在塑料上真空沉積鋁或銅

陽極氧化/鋁、氮化物外殼深度