角度分辨光電子能譜 (ARPES) 已成為了解材料電子結構的技術。ARPES Lab很大限度地發揮了革命性的 DFS30 半球形高分辨率分析儀及其獲得許可的鏡頭內偏轉器和靜電三維聚焦調節器的優勢。通過集成的低溫操縱器和新型的系統軟件控制，可以準確測量高分辨率全三維 ARPES 帶狀結構，而無需移動樣品。

DFS30 偏轉板和 3D 聚焦調節，可獲得準確的 ARPES 結果

明亮的單色器紫外光源，光束光斑小

經過驗證的 µARPES、tr-ARPES、自旋測量和 HREELS 解決方案

激光源、樣品制備和 LEED 的集成選項

低溫 LHe 和封閉循環低溫樣品操縱器

部署在 CREATE 平臺上

更高的 k 空間分辨率和更短的測量時間

通過保持樣品角度固定，避免與幾何形狀相關的矩陣元素效應

用于 DN40CF 閘閥的墊片套件

備用件：環形加熱元件

備用件：系統工作臺水平腳（綠色）

產地：英國

能量分辨率，DFS30 分析儀：< 1.8 meV（DFS30-8000 型< 1.0 meV）

靜電 3D 聚焦調整：是

角度分辨范圍：± 15° 全錐體

用于全錐檢測的偏轉模式：是

能量范圍：0.5 - 1500 eV

角度分辨率，DFS30 分析儀：0.1°

磁屏蔽，分析室：< 500 nT（使用雙 mu-liner 時 < 100 nT）

分析室基本壓力： 10-11 mBar 運行壓力

快速氦泵（串聯渦輪泵）：是

紫外能量分辨率：1 meV（He I）

電動操縱器軸：x、y、z、極軸、方位軸、傾斜軸（可提供 4 - 6 軸型號）

機械手溫度范圍：從 < 3.5 K 到 400 K，可并行準備加熱級  

用于穩定溫度的反向加熱：是

超穩定、模塊化、高壓電子裝置：是

軟件：MISTRAL 系統控制，PEAK 分析儀控制軟件

光學、實驗、表面化學分析、分子結構、催化劑、新材料等研究領域