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FORMFACTOR光波探頭LWP-CLV-SM

產品介紹

LWP 系列光波探頭可以對晶圓上和混合光子器件進行光學測量。它具有用戶可更換的光纖尾纖,使探頭能夠針對各種光傳輸和光收集應用進行優化,包括頂部照明光電二極管的表征、垂直腔面發射激光器 (VCSEL)、混合發射器和接收器、

和 LED。

LWP 探頭可以照亮和收集用于表征各種光子器件的光信號。當與 FormFactor 的探針臺和 RF/DC 探針結合使用時,LWP 探針可以提供調制、頻譜、時域和低電平 LIV 測量。

現場可更換光纖尾纖的選擇取決于所需的照明模式或收集效率。光纖尾纖可用作單模或多模,帶有透鏡端面或切割端面。透鏡光纖尾纖提供高數值孔徑 (NA) 照明并以極低的背反射收集光線。帶透鏡的單模光纖可提供小至 5 μm 的照明區域。多模尾纖非常適合有效率的光收集。

 

性能特點

靈活性和易用性

  • 針對各種應用進行了優化的現場可更換光纖
  • 晶圓映射能力和關鍵參數的可視化顯示

準確性

  • 接觸保護設計可確保在晶圓和基板級別進行快速、準確和可重復的測量
  • 大限度地減少了高速測試的電氣寄生效應

兼容性

  • 標準 FC 型光纖連接器
  • 與 FormFactor 探針臺和附件兼容

選型指南

技術參數

產品尺寸


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