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KARL DEUTSCH涂層測厚儀(帶探頭)LEPTOSKOP 2042

  • 品  牌:KARL DEUTSCH
  • 型  號:LEPTOSKOP 2042
  • 技術資料:
  • 閱讀次數:5438

產品介紹

大型圖形顯示48毫米×24毫米,帶照明

校準選項:

出廠前校準,立刻準備測量

校準未知涂層

零點校準

未涂覆基材之一,多箔校準

涂層材料校準

校準數據可以單獨存儲在單獨的校準文件,并可以重新裝載

可選的顯示模式,以獲得適應測量任務

輸入和監控限制

Windows下讀數存儲,方便文件管理

可用的PC軟件EasyExport和ICOM

多達999個讀數統計評估

最小值,最大值,平均值,讀數,標準差,監測極限

局部厚度和平均涂層厚度(DINEN ISO2808)

在線統計,所有統計值一目了然

產品可配KARL DEUTSCH探頭

KARL DEUTSCH(卡爾德意志)自1949公司成立以來,一直致力于研發和生產無損檢測儀器和設備,是個傳統的家族企業。產品包括便攜式儀器,臺式儀器, 探頭和滲透裂紋檢測劑。典型的檢測任務是超聲波焊縫檢測,鑄件缺陷檢驗,用磁粉或滲透方法對鍛件裂紋檢測,軌道交通和航空安全系統中的部件檢測,以及壁厚和涂層厚度測量。

詳細參數

串行接口:將數據傳輸到RS232或USB

電源:通過電池,USB或電源裝置

測量范圍:0 -20000微米(取決于探頭)

測量速率:高達每秒2讀數

存儲:最大9999,讀數高達140文件

測量不確定度(校準后)

涂層厚度<100微米:讀數+/-1微米的1%

涂層厚度>100微米:讀數+/-1微米的1..3%

涂層厚度>1000微米:讀數+/-10微米的3..5%

涂層厚度> 10000微米:讀數+/- 100微米的5%


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