測量系統 OptiSurf IR 允許測量紅外鏡頭的中心厚度和空氣距離。

OptiSurf 非常適合非接觸式測量單透鏡和平面光學元件的中心厚度以及測量光學系統中的氣隙。低相干干涉儀只需一次掃描操作即可測量光學系統中的所有表面距離，精度高達 0.15 µm。其創新的對齊方式、可調節的樣品托盤和直觀的軟件可以簡單的方式準確定位和測量鏡頭和光學系統。這使得 OptiSurf 特別適合在生產中使用。

• 中心厚度和氣隙的高精度測量
• 測量所有紅外材料
• 5 µm 的測量精度
• 帶自動對焦的測量頭
• 可選與 OptiCentic IR 組合以實現對紅外鏡頭系統的完全對準控制
• 用于初步對準樣品的集成視覺激光束
• 軟件

OptiSurf Professional

OptiSurf Professional 軟件可以快速地測量和分析光學系統中的中心厚度和氣隙。透鏡系統方案中的信號曲線和顏色標記都允許快速得出關于測量的合理性和完整性的結論。通過統計評估進行多次測量可以進行高度可靠的評估。

光學對準工具，用于快速輕松地對準樣品和集成在儀器底座中的測量頭

經認證的 0.5“ 參考樣品，可溯源至國際標準